Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices (2006)
Source: Poster Session. Conference titles: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat). Unidade: IF
Subjects: MATERIAIS (PESQUISA), SEMICONDUTORES
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ABNT
LAMAS, Tomás et al. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf. Acesso em: 17 set. 2024.APA
Lamas, T., Morelhão, S. L., Perrotta, A., Quivy, A. A., & Freitas, R. de O. (2006). Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices. In Poster Session. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdfNLM
Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 set. 17 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdfVancouver
Lamas T, Morelhão SL, Perrotta A, Quivy AA, Freitas R de O. Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices [Internet]. Poster Session. 2006 ;[citado 2024 set. 17 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
