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  • Artigo de periodico

    Two-dimensional intensity profiles of effective satellites (2002)

    Morelhão, Sérgio Luiz ; Avanci, L H; Quivy, Alain André ; Abramog, E

    Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, v. 35, p. 69-74, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921. Acesso em: 27 nov. 2025.

    • APA

      Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Quivy, A. A., & Abramog, E. (2002). Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, 35, 69-74. doi:10.1107/s0021889801018921

    • NLM

      Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921

    • Vancouver

      Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921

  • Artigo de periodico

    Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide (2001)

    Prado, Rogerio Junqueira; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés ; Odo, G Y; Lepienski, C M

    Source: Journal of Applied Crystallography. Unidades: IF, EP

    Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA)

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      PRADO, Rogerio Junqueira et al. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide. Journal of Applied Crystallography, v. 34, p. 465-472, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889. Acesso em: 27 nov. 2025.

    • APA

      Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Odo, G. Y., & Lepienski, C. M. (2001). Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide. Journal of Applied Crystallography, 34, 465-472. doi:10.1107/s0021889801007889

    • NLM

      Prado RJ, Fantini MC de A, Pereyra I, Odo GY, Lepienski CM. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2001 ; 34 465-472.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889

    • Vancouver

      Prado RJ, Fantini MC de A, Pereyra I, Odo GY, Lepienski CM. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2001 ; 34 465-472.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889
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