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  • Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, RADIAÇÃO SINCROTRON, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

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    • ABNT

      ESTRADIOTE, Maurício B et al. Simulation of bright and dark diffuse multiple scattering lines in high-flux synchrotron X-ray experiments. Journal of Applied Crystallography, 2025Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576725003553. Acesso em: 27 nov. 2025.
    • APA

      Estradiote, M. B., Nisbet, A. G. A., Penacchio, R. F. S., Miranda, M. A. R., Calligaris, G. A., & Morelhão, S. L. (2025). Simulation of bright and dark diffuse multiple scattering lines in high-flux synchrotron X-ray experiments. Journal of Applied Crystallography. doi:https://doi.org/10.1107/S1600576725003553
    • NLM

      Estradiote MB, Nisbet AGA, Penacchio RFS, Miranda MAR, Calligaris GA, Morelhão SL. Simulation of bright and dark diffuse multiple scattering lines in high-flux synchrotron X-ray experiments [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2025 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576725003553
    • Vancouver

      Estradiote MB, Nisbet AGA, Penacchio RFS, Miranda MAR, Calligaris GA, Morelhão SL. Simulation of bright and dark diffuse multiple scattering lines in high-flux synchrotron X-ray experiments [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2025 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576725003553
  • Source: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF

    Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA

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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, v. 35, p. 69-74, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921. Acesso em: 27 nov. 2025.
    • APA

      Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Quivy, A. A., & Abramog, E. (2002). Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, 35, 69-74. doi:10.1107/s0021889801018921
    • NLM

      Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921
    • Vancouver

      Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921
  • Source: Journal of Applied Crystallography. Unidades: IF, EP

    Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA)

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      PRADO, Rogerio Junqueira et al. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide. Journal of Applied Crystallography, v. 34, p. 465-472, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889. Acesso em: 27 nov. 2025.
    • APA

      Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Odo, G. Y., & Lepienski, C. M. (2001). Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide. Journal of Applied Crystallography, 34, 465-472. doi:10.1107/s0021889801007889
    • NLM

      Prado RJ, Fantini MC de A, Pereyra I, Odo GY, Lepienski CM. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2001 ; 34 465-472.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889
    • Vancouver

      Prado RJ, Fantini MC de A, Pereyra I, Odo GY, Lepienski CM. Structural and morphological investigation of amorphous hydrogenated silicon carbide [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2001 ; 34 465-472.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801007889

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