Two-dimensional intensity profiles of effective satellites (2002)
Morelhão, Sérgio Luiz 
; Avanci, L H; Quivy, Alain André ; Abramog, E
Fonte: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, CRISTALOGRAFIA FÍSICA
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, v. 35, p. 69-74, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921. Acesso em: 28 nov. 2025.APA
Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Quivy, A. A., & Abramog, E. (2002). Two-dimensional intensity profiles of effective satellites. Journal of Applied Crystallography, 35, 69-74. doi:10.1107/s0021889801018921NLM
Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921Vancouver
Morelhão SL, Avanci LH, Quivy AA, Abramog E. Two-dimensional intensity profiles of effective satellites [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2002 ; 35 69-74.[citado 2025 nov. 28 ] Available from: https://doi.org/10.1107/s0021889801018921
