Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness (1995)
Source: Proceedings. Conference titles: Congress of the Brazilian Microelectronics Society. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
LOPES, M C V et al. Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness. 1995, Anais.. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995. . Acesso em: 18 out. 2024.APA
Lopes, M. C. V., Santos Filho, S. G. dos, Hasenack, C. M., & Baranauskas, V. (1995). Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness. In Proceedings. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs.NLM
Lopes MCV, Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Baranauskas V. Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness. Proceedings. 1995 ;[citado 2024 out. 18 ]Vancouver
Lopes MCV, Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Baranauskas V. Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness. Proceedings. 1995 ;[citado 2024 out. 18 ]