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  • Artigo de periodico

    Contactless pick-and-place of millimetric objects using inverted near-field acoustic levitation (2020)

    Andrade, Marco Aurélio Brizzotti ; Ramos, Tiago S.; Adamowski, Júlio Cezar ; Marzo, Asier

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidades: IF, EP

    Assuntos: ACÚSTICA, ACÚSTICA, MICROELETRÔNICA, DINÂMICA DOS FLUÍDOS COMPUTACIONAL, MÉTODOS NUMÉRICOS EM DINÂMICA DE FLUÍDOS

    Versão AceitaAcesso à fonteDOIComo citar
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    • ABNT

      ANDRADE, Marco Aurélio Brizzotti et al. Contactless pick-and-place of millimetric objects using inverted near-field acoustic levitation. Applied Physics Letters, v. 116, n. 5, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.5138598. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Andrade, M. A. B., Ramos, T. S., Adamowski, J. C., & Marzo, A. (2020). Contactless pick-and-place of millimetric objects using inverted near-field acoustic levitation. Applied Physics Letters, 116( 5). doi:10.1063/1.5138598

    • NLM

      Andrade MAB, Ramos TS, Adamowski JC, Marzo A. Contactless pick-and-place of millimetric objects using inverted near-field acoustic levitation [Internet]. Applied Physics Letters. 2020 ; 116( 5):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5138598

    • Vancouver

      Andrade MAB, Ramos TS, Adamowski JC, Marzo A. Contactless pick-and-place of millimetric objects using inverted near-field acoustic levitation [Internet]. Applied Physics Letters. 2020 ; 116( 5):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.5138598

  • Artigo de periodico

    Acoustic levitation in mid-air: Recent advances, challenges, and future perspectives (2020)

    Andrade, Marco Aurélio Brizzotti ; Marzo, Asier ; Adamowski, Júlio Cezar

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidades: IF, EP

    Assuntos: ACÚSTICA, ACÚSTICA

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIComo citar
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    • ABNT

      ANDRADE, Marco Aurélio Brizzotti e MARZO, Asier e ADAMOWSKI, Júlio Cezar. Acoustic levitation in mid-air: Recent advances, challenges, and future perspectives. Applied Physics Letters, v. 116, n. 25, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0012660. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Andrade, M. A. B., Marzo, A., & Adamowski, J. C. (2020). Acoustic levitation in mid-air: Recent advances, challenges, and future perspectives. Applied Physics Letters, 116( 25). doi:10.1063/5.0012660

    • NLM

      Andrade MAB, Marzo A, Adamowski JC. Acoustic levitation in mid-air: Recent advances, challenges, and future perspectives [Internet]. Applied Physics Letters. 2020 ; 116( 25):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0012660

    • Vancouver

      Andrade MAB, Marzo A, Adamowski JC. Acoustic levitation in mid-air: Recent advances, challenges, and future perspectives [Internet]. Applied Physics Letters. 2020 ; 116( 25):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0012660

  • Artigo de periodico

    Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2018)

    Morelhão, Sérgio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X

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    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, v. 112, n. 12, p. 101903, 2018Tradução . . Disponível em: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2018). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, 112( 12), 101903. doi:10.1063/1.5020375

    • NLM

      Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375

    • Vancouver

      Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375

  • Artigo de periodico

    Particle manipulation by a non-resonant acoustic levitator (2015)

    Andrade, Marco Aurélio Brizzotti ; Perez, Nicolas; Adamowski, Júlio Cezar

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidades: IF, EP

    Assunto: SENSOR

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    • ABNT

      ANDRADE, Marco Aurélio Brizzotti e PEREZ, Nicolas e ADAMOWSKI, Júlio Cezar. Particle manipulation by a non-resonant acoustic levitator. Applied Physics Letters, v. 106, n. 1, p. 014101, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4905130. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Andrade, M. A. B., Perez, N., & Adamowski, J. C. (2015). Particle manipulation by a non-resonant acoustic levitator. Applied Physics Letters, 106( 1), 014101. doi:10.1063/1.4905130

    • NLM

      Andrade MAB, Perez N, Adamowski JC. Particle manipulation by a non-resonant acoustic levitator [Internet]. Applied Physics Letters. 2015 ; 106( 1): 014101.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4905130

    • Vancouver

      Andrade MAB, Perez N, Adamowski JC. Particle manipulation by a non-resonant acoustic levitator [Internet]. Applied Physics Letters. 2015 ; 106( 1): 014101.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4905130

  • Artigo de periodico

    Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures (2007)

    Finka, D.; Kiv, A.; Fuks, D.; Tabacniks, Manfredo ; Rizzutto, Marcia ; Silva, A. De O. D.; Chandra, A.; Golovanov, V.; Ivanovskaya, M.; Khirunenko, L.

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, SILÍCIO, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, RESISTÊNCIA FÍSICA, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, FÍSICA, SEMICONDUTORES, TRANSISTORES

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      FINKA, D. et al. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, v. 91, n. 8, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2773950. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Finka, D., Kiv, A., Fuks, D., Tabacniks, M., Rizzutto, M., Silva, A. D. O. D., et al. (2007). Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, 91( 8). doi:10.1063/1.2773950

    • NLM

      Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950

    • Vancouver

      Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950

  • Artigo de periodico

    Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation (1998)

    Morelhão, Sérgio Luiz ; Avanci, L H; Hayashi, M A; Cardoso, L P; Collins, S P

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. Applied Physics Letters, v. 73, n. 15, p. 2194-2196, 1998Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.122420. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Hayashi, M. A., Cardoso, L. P., & Collins, S. P. (1998). Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. Applied Physics Letters, 73( 15), 2194-2196. doi:10.1063/1.122420

    • NLM

      Morelhão SL, Avanci LH, Hayashi MA, Cardoso LP, Collins SP. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 73( 15): 2194-2196.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.122420

    • Vancouver

      Morelhão SL, Avanci LH, Hayashi MA, Cardoso LP, Collins SP. Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation [Internet]. Applied Physics Letters. 1998 ; 73( 15): 2194-2196.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.122420

  • Artigo de periodico

    Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors (1997)

    Hayashi, M A; Morelhão, Sérgio Luiz ; Avanci, L H; Cardoso, L P; Sasaki, J M; Kretly, L C; Chang, S L

    Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: SEMICONDUTORES

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      HAYASHI, M A et al. Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors. Applied Physics Letters, v. 71, n. 18, p. 2614-2616. 1997, 1997Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.120157. Acesso em: 07 nov. 2025.

    • APA

      Hayashi, M. A., Morelhão, S. L., Avanci, L. H., Cardoso, L. P., Sasaki, J. M., Kretly, L. C., & Chang, S. L. (1997). Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors. Applied Physics Letters, 71( 18), 2614-2616. 1997. doi:10.1063/1.120157

    • NLM

      Hayashi MA, Morelhão SL, Avanci LH, Cardoso LP, Sasaki JM, Kretly LC, Chang SL. Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors [Internet]. Applied Physics Letters. 1997 ; 71( 18): 2614-2616. 1997.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120157

    • Vancouver

      Hayashi MA, Morelhão SL, Avanci LH, Cardoso LP, Sasaki JM, Kretly LC, Chang SL. Sensitivity Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors [Internet]. Applied Physics Letters. 1997 ; 71( 18): 2614-2616. 1997.[citado 2025 nov. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.120157
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