Filtros : "Applied Physics Letters" "Fazzio, Adalberto" Limpar

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  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, ESTRUTURA ELETRÔNICA, SUPERFÍCIE FÍSICA

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    • ABNT

      MIWA, R H e ORELLANA, W e FAZZIO, Adalberto. Substrate-dependent electronic properties of an armchair carbon nanotube adsorbed on H/Si(001). Applied Physics Letters, v. 86, p. 213111, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1931027. Acesso em: 03 nov. 2025.
    • APA

      Miwa, R. H., Orellana, W., & Fazzio, A. (2005). Substrate-dependent electronic properties of an armchair carbon nanotube adsorbed on H/Si(001). Applied Physics Letters, 86, 213111. doi:10.1063/1.1931027
    • NLM

      Miwa RH, Orellana W, Fazzio A. Substrate-dependent electronic properties of an armchair carbon nanotube adsorbed on H/Si(001) [Internet]. Applied Physics Letters. 2005 ; 86 213111.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1931027
    • Vancouver

      Miwa RH, Orellana W, Fazzio A. Substrate-dependent electronic properties of an armchair carbon nanotube adsorbed on H/Si(001) [Internet]. Applied Physics Letters. 2005 ; 86 213111.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1931027
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: FILMES FINOS, MATÉRIA CONDENSADA

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    • ABNT

      SCOPEL, W L et al. Comparative study of defect energetics in Hf'O IND.2' and Si'O IND. 2'. Applied Physics Letters, 2004Tradução . . Disponível em: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000084000009001492000001&idtype=cvips. Acesso em: 03 nov. 2025.
    • APA

      Scopel, W. L., Silva, A. J. R. da, Orellana, W., & Fazzio, A. (2004). Comparative study of defect energetics in Hf'O IND.2' and Si'O IND. 2'. Applied Physics Letters. Recuperado de http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000084000009001492000001&idtype=cvips
    • NLM

      Scopel WL, Silva AJR da, Orellana W, Fazzio A. Comparative study of defect energetics in Hf'O IND.2' and Si'O IND. 2' [Internet]. Applied Physics Letters. 2004 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000084000009001492000001&idtype=cvips
    • Vancouver

      Scopel WL, Silva AJR da, Orellana W, Fazzio A. Comparative study of defect energetics in Hf'O IND.2' and Si'O IND. 2' [Internet]. Applied Physics Letters. 2004 ;[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000084000009001492000001&idtype=cvips
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: ESTRUTURA ELETRÔNICA

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    • ABNT

      DALPIAN, Gustavo Martini et al. Ab initio calculations of vacancies in 'Si IND.X' 'Ge IND.1-X'. Applied Physics Letters, v. 81, n. 8, p. 3383-3385, 2002Tradução . . Disponível em: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000081000018003383000001&idtype=cvips. Acesso em: 03 nov. 2025.
    • APA

      Dalpian, G. M., Venezuela, P., Silva, A. J. R. da, & Fazzio, A. (2002). Ab initio calculations of vacancies in 'Si IND.X' 'Ge IND.1-X'. Applied Physics Letters, 81( 8), 3383-3385. Recuperado de http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000081000018003383000001&idtype=cvips
    • NLM

      Dalpian GM, Venezuela P, Silva AJR da, Fazzio A. Ab initio calculations of vacancies in 'Si IND.X' 'Ge IND.1-X' [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 8): 3383-3385.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000081000018003383000001&idtype=cvips
    • Vancouver

      Dalpian GM, Venezuela P, Silva AJR da, Fazzio A. Ab initio calculations of vacancies in 'Si IND.X' 'Ge IND.1-X' [Internet]. Applied Physics Letters. 2002 ; 81( 8): 3383-3385.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APPLAB000081000018003383000001&idtype=cvips
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Subjects: ESTRUTURA ELETRÔNICA, SEMICONDUTORES

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SCHMIDT, T M e JUSTO FILHO, João Francisco e FAZZIO, Adalberto. Stacking fault effects in pure and n-type doped GaAs. Applied Physics Letters, v. 78, n. 7, p. 907-909, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1347005. Acesso em: 03 nov. 2025.
    • APA

      Schmidt, T. M., Justo Filho, J. F., & Fazzio, A. (2001). Stacking fault effects in pure and n-type doped GaAs. Applied Physics Letters, 78( 7), 907-909. doi:10.1063/1.1347005
    • NLM

      Schmidt TM, Justo Filho JF, Fazzio A. Stacking fault effects in pure and n-type doped GaAs [Internet]. Applied Physics Letters. 2001 ; 78( 7): 907-909.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1347005
    • Vancouver

      Schmidt TM, Justo Filho JF, Fazzio A. Stacking fault effects in pure and n-type doped GaAs [Internet]. Applied Physics Letters. 2001 ; 78( 7): 907-909.[citado 2025 nov. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1347005
  • Source: Applied Physics Letters. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SCHMIDT, T M et al. Carbon doping of 'GA''AS': compensation effects. Applied Physics Letters, v. 66, n. 20, p. 2715-7, 1995Tradução . . Acesso em: 03 nov. 2025.
    • APA

      Schmidt, T. M., Venezuela, P. P. M., Caldas, M. J., & Fazzio, A. (1995). Carbon doping of 'GA''AS': compensation effects. Applied Physics Letters, 66( 20), 2715-7.
    • NLM

      Schmidt TM, Venezuela PPM, Caldas MJ, Fazzio A. Carbon doping of 'GA''AS': compensation effects. Applied Physics Letters. 1995 ;66( 20): 2715-7.[citado 2025 nov. 03 ]
    • Vancouver

      Schmidt TM, Venezuela PPM, Caldas MJ, Fazzio A. Carbon doping of 'GA''AS': compensation effects. Applied Physics Letters. 1995 ;66( 20): 2715-7.[citado 2025 nov. 03 ]

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