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Autores USP
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Ano de publicação
- 2021 (~1)
- 2020 (~1)
Assuntos
- física nuclear (2)
- acelerador de partículas (1)
- dispositivos eletrônicos (1)
- eletrônica quântica (1)
- física de partículas (1)

Artigo de periodico
Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments (2021)
Vilas Bôas, Alexis C.; Melo, M.A.A. de; Santos, R. B. B.; Giacomini, R.; Medina, Nilberto Heder ; Seixas, L. E.; Finco, S.; Palomo, F. R.; Romero-Maestre, A.; Guazzelli, Marcilei A.
Fonte: Microelectronics Reliability. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE, ELETRÔNICA QUÂNTICA, NANOTECNOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VILAS BÔAS, Alexis C. et al. Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments. Microelectronics Reliability, v. 116, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.114000. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Vilas Bôas, A. C., Melo, M. A. A. de, Santos, R. B. B., Giacomini, R., Medina, N. H., Seixas, L. E., et al. (2021). Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments. Microelectronics Reliability, 116. doi:10.1016/j.microrel.2020.114000
NLM
Vilas Bôas AC, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Medina NH, Seixas LE, Finco S, Palomo FR, Romero-Maestre A, Guazzelli MA. Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments [Internet]. Microelectronics Reliability. 2021 ; 116[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.114000
Vancouver
Vilas Bôas AC, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Medina NH, Seixas LE, Finco S, Palomo FR, Romero-Maestre A, Guazzelli MA. Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments [Internet]. Microelectronics Reliability. 2021 ; 116[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.114000
Artigo de periodico
Neutron radiation effects on an electronic system on module (2020)
Lo Presti, Domenico ; Medina, Nilberto Heder ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Oliveira, José Roberto Brandão de ; Added, Nemitala ; Macchione, Eduardo Luiz Augusto
Fonte: Review of Scientific Instruments. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PARTÍCULAS, ACELERADOR DE PARTÍCULAS, NÊUTRONS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, REAÇÕES NUCLEARES, REATORES NUCLEARES DE FISSÃO, ISÓTOPOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LO PRESTI, Domenico et al. Neutron radiation effects on an electronic system on module. Review of Scientific Instruments, v. 91, n. 8, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0010968. Acesso em: 06 nov. 2025.
APA
Lo Presti, D., Medina, N. H., Aguiar, V. Â. P. de, Oliveira, J. R. B. de, Added, N., & Macchione, E. L. A. (2020). Neutron radiation effects on an electronic system on module. Review of Scientific Instruments, 91( 8). doi:10.1063/5.0010968
NLM
Lo Presti D, Medina NH, Aguiar VÂP de, Oliveira JRB de, Added N, Macchione ELA. Neutron radiation effects on an electronic system on module [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 8):[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0010968
Vancouver
Lo Presti D, Medina NH, Aguiar VÂP de, Oliveira JRB de, Added N, Macchione ELA. Neutron radiation effects on an electronic system on module [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2020 ; 91( 8):[citado 2025 nov. 06 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0010968

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