Destructive single-event effects in semiconductor devices (2019)
Source: Abstracts. Conference titles: Escola de Verão Jorge André Swieca Física Nuclear Teórica. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2019, Anais.. São Paulo: SBF, 2019. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, & Ribas, R. V. (2019). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdfNLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdfVancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Ribas RV. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2019 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/evjas-fnt/xix/sys/resumos/R0027-1.pdf
