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  • Source: ECS Transactions. Conference titles: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP

    Subjects: GRANULOMETRIA, ALGORITMOS

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MARUTA, Ricardo Hitoshi et al. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. ECS Transactions. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. Disponível em: http://ecst.ecsdl.org/content/31/1/273. Acesso em: 05 nov. 2024. , 2010
    • APA

      Maruta, R. H., Kim, H. Y., Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2010). A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. ECS Transactions. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/1.3474171
    • NLM

      Maruta RH, Kim HY, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. ECS Transactions. 2010 ; 31( 1): 273-280.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://ecst.ecsdl.org/content/31/1/273
    • Vancouver

      Maruta RH, Kim HY, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. ECS Transactions. 2010 ; 31( 1): 273-280.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://ecst.ecsdl.org/content/31/1/273
  • Source: Pattern recognition. Unidade: EP

    Assunto: ALGORITMOS

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    • ABNT

      KIM, Hae Yong. Rotation-discriminating template matching based on Fourier coefficients of radial projections with robustness to scaling and partial occlusion. Pattern recognition, v. 43, n. 3, p. 859-872, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.patcog.2009.08.005. Acesso em: 05 nov. 2024.
    • APA

      Kim, H. Y. (2010). Rotation-discriminating template matching based on Fourier coefficients of radial projections with robustness to scaling and partial occlusion. Pattern recognition, 43( 3), 859-872. doi:10.1016/j.patcog.2009.08.005
    • NLM

      Kim HY. Rotation-discriminating template matching based on Fourier coefficients of radial projections with robustness to scaling and partial occlusion [Internet]. Pattern recognition. 2010 ;43( 3): 859-872.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.patcog.2009.08.005
    • Vancouver

      Kim HY. Rotation-discriminating template matching based on Fourier coefficients of radial projections with robustness to scaling and partial occlusion [Internet]. Pattern recognition. 2010 ;43( 3): 859-872.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.patcog.2009.08.005
  • Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidade: EP

    Subjects: GRANULOMETRIA, ALGORITMOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      MARUTA, Ricardo Hitoshi et al. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 225-229, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474170. Acesso em: 05 nov. 2024.
    • APA

      Maruta, R. H., Kim, H. Y., Huanca, D. R., & Salcedo, W. J. (2010). A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 225-229. doi:10.1149/1.3474170
    • NLM

      Maruta RH, Kim HY, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 225-229.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474170
    • Vancouver

      Maruta RH, Kim HY, Huanca DR, Salcedo WJ. A new correlation-based granulometry algorithm with application in characterizing porous silicon nanomaterials [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 225-229.[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474170
  • Source: Anais: XII SBSR. Conference titles: Congresso Brasileiro de Sensoriamento Remoto. Unidade: EP

    Subjects: SENSORIAMENTO REMOTO, PROCESSAMENTO DE IMAGENS, APRENDIZADO COMPUTACIONAL, ALGORITMOS

    PrivadoHow to cite
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    • ABNT

      SHIBA, Marcelo Hiroshi et al. Classificação de imagens de sensoriamento remoto pela apredizagem por árvore de decisão: uma avaliação de desempenho. 2005, Anais.. São José dos Campos: INPE, 2005. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a12db60-b738-4fe7-afff-71e0219bc4eb/Quintanilha-2005-classificacao_de_imagens.pdf. Acesso em: 05 nov. 2024.
    • APA

      Shiba, M. H., Santos, R. L., Quintanilha, J. A., & Hae, Y. K. (2005). Classificação de imagens de sensoriamento remoto pela apredizagem por árvore de decisão: uma avaliação de desempenho. In Anais: XII SBSR. São José dos Campos: INPE. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a12db60-b738-4fe7-afff-71e0219bc4eb/Quintanilha-2005-classificacao_de_imagens.pdf
    • NLM

      Shiba MH, Santos RL, Quintanilha JA, Hae YK. Classificação de imagens de sensoriamento remoto pela apredizagem por árvore de decisão: uma avaliação de desempenho [Internet]. Anais: XII SBSR. 2005 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a12db60-b738-4fe7-afff-71e0219bc4eb/Quintanilha-2005-classificacao_de_imagens.pdf
    • Vancouver

      Shiba MH, Santos RL, Quintanilha JA, Hae YK. Classificação de imagens de sensoriamento remoto pela apredizagem por árvore de decisão: uma avaliação de desempenho [Internet]. Anais: XII SBSR. 2005 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a12db60-b738-4fe7-afff-71e0219bc4eb/Quintanilha-2005-classificacao_de_imagens.pdf

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