The testing of silicon detector sample with high-energy electrons (1998)
Source: Programa e resumos. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA NUCLEAR
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ABNT
EVSEEV, I G et al. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 10 nov. 2024.APA
Evseev, I. G., Paschuk, S. A., Schelin, H. R., Silva, H. P., Letvinenko, V., Klepikov, V. F., et al. (1998). The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. In Programa e resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Evseev IG, Paschuk SA, Schelin HR, Silva HP, Letvinenko V, Klepikov VF, Rozenfeld AB, Likhachev VP, Martins MN. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2024 nov. 10 ]Vancouver
Evseev IG, Paschuk SA, Schelin HR, Silva HP, Letvinenko V, Klepikov VF, Rozenfeld AB, Likhachev VP, Martins MN. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2024 nov. 10 ]
