The testing of silicon detector sample with high-energy electrons (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: LICHATCHEV, VLADIMIR PETROVICH - IF ; MARTINS, MARCOS NOGUEIRA - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FÍSICA NUCLEAR
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1998
- Source:
- Título: Programa e resumos
- Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil
-
ABNT
EVSEEV, I G et al. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 15 mar. 2026. -
APA
Evseev, I. G., Paschuk, S. A., Schelin, H. R., Silva, H. P., Letvinenko, V., Klepikov, V. F., et al. (1998). The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. In Programa e resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Evseev IG, Paschuk SA, Schelin HR, Silva HP, Letvinenko V, Klepikov VF, Rozenfeld AB, Likhachev VP, Martins MN. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2026 mar. 15 ] -
Vancouver
Evseev IG, Paschuk SA, Schelin HR, Silva HP, Letvinenko V, Klepikov VF, Rozenfeld AB, Likhachev VP, Martins MN. The testing of silicon detector sample with high-energy electrons. Programa e resumos. 1998 ;[citado 2026 mar. 15 ] - Features of spectral-angular distribution of coherent x-radiation
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