ReP USP - Resultado da busca

Trabalho de evento-resumo
Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. (2011)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da ; Cirne, Karin Huscher; Seixas Jr, L E; Lima, J A de; Barbosa, M D L; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, N; Medina, N H; Gimenez, S P; Melo, W; Santos, R B B
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf. Acesso em: 08 ago. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Cirne, K. H., Seixas Jr, L. E., Lima, J. A. de, Barbosa, M. D. L., Tabacniks, M. H., et al. (2011). Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
NLM
Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
Vancouver
Silveira MAG da, Cirne KH, Seixas Jr LE, Lima JA de, Barbosa MDL, Tabacniks MH, Added N, Medina NH, Gimenez SP, Melo W, Santos RBB. Performance of electronic devices submitted to X-rays and high energy proton beams. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/88.pdf
Trabalho de evento-resumo
Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. (2011)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da ; Medina, N H; Added, N; Tabacniks, Manfredo Harri ; Santos, R B; Cirne, Karin Huscher; Gimenez, S P; Lima, J A De; Seixas, L E
Source: Resumo. Conference titles: Latin American Symposium on Nuclear Physics and Applications. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. 2011, Anais.. Quito: LASNPA, 2011. Disponível em: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49. Acesso em: 08 ago. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., Tabacniks, M. H., Santos, R. B., Cirne, K. H., et al. (2011). Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. In Resumo. Quito: LASNPA. Recuperado de http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
NLM
Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Tabacniks MH, Santos RB, Cirne KH, Gimenez SP, Lima JAD, Seixas LE. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
Vancouver
Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Tabacniks MH, Santos RB, Cirne KH, Gimenez SP, Lima JAD, Seixas LE. Leakage current and threshold voltage alteration due to X-rays and proton beam in nMOSFETs with different geometries. [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.lasnpa-quito2011.org/abstract_export.php?id=49
Trabalho de evento-resumo
Thin target PIXE calibration using thick target yields (2011)
Aguirre, F R; Tabacniks, Manfredo Harri ; Rizzuto, M A; Added, N; Barbosa, M D L
Source: Resumo. Conference titles: International Conference on Ion Beam Analysis. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIRRE, F R et al. Thin target PIXE calibration using thick target yields. 2011, Anais.. Itapema: IBA, 2011. Disponível em: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf. Acesso em: 08 ago. 2024.
APA
Aguirre, F. R., Tabacniks, M. H., Rizzuto, M. A., Added, N., & Barbosa, M. D. L. (2011). Thin target PIXE calibration using thick target yields. In Resumo. Itapema: IBA. Recuperado de http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
NLM
Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf
Vancouver
Aguirre FR, Tabacniks MH, Rizzuto MA, Added N, Barbosa MDL. Thin target PIXE calibration using thick target yields [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 ago. 08 ] Available from: http://www.if.ufrgs.br/iba2011/program/124.pdf

USP Schools

ReP

Filtros

Authors

Non normalized affiliation