Source: siPDusp. Conference titles: Simpósio Internacional de Pós-Doutorado. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, MICROELETRÔNICA
ABNT
OLIVEIRA, Alessandro Ricardo de e PEREYRA, Inés e PÁEZ CARREÑO, Marcelo Nelson. Caracterização elétrica de contatos de Al, Ni e Ti em filmes cristalizados de SiC obtidos por PECVD. 2008, Anais.. São Paulo: USP, 2008. . Acesso em: 13 nov. 2024.APA
Oliveira, A. R. de, Pereyra, I., & Páez Carreño, M. N. (2008). Caracterização elétrica de contatos de Al, Ni e Ti em filmes cristalizados de SiC obtidos por PECVD. In siPDusp. São Paulo: USP.NLM
Oliveira AR de, Pereyra I, Páez Carreño MN. Caracterização elétrica de contatos de Al, Ni e Ti em filmes cristalizados de SiC obtidos por PECVD. siPDusp. 2008 ;[citado 2024 nov. 13 ]Vancouver
Oliveira AR de, Pereyra I, Páez Carreño MN. Caracterização elétrica de contatos de Al, Ni e Ti em filmes cristalizados de SiC obtidos por PECVD. siPDusp. 2008 ;[citado 2024 nov. 13 ]