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Date published
- 2022 (~1)
- 2013 (~1)
Subjects
- acelerador de partículas (2)
- colisões de íons pesados relativísticos (2)
- física nuclear (2)
- dispositivos eletrônicos (1)
- física de partículas (1)

Artigo de periodico
Successive approximation register ADC single event effects protection and evaluation (2022)
Sanches, Bruno Cavalcante de Souza ; Bregant, Marco ; Hernandez, H.; Noije, W. van
Source: Journal of Instrumentation. Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PARTÍCULAS, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANCHES, Bruno Cavalcante de Souza et al. Successive approximation register ADC single event effects protection and evaluation. Journal of Instrumentation, v. 17, n. 4, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/04/C04037. Acesso em: 01 ago. 2024.
APA
Sanches, B. C. de S., Bregant, M., Hernandez, H., & Noije, W. van. (2022). Successive approximation register ADC single event effects protection and evaluation. Journal of Instrumentation, 17( 4). doi:10.1088/1748-0221/17/04/C04037
NLM
Sanches BC de S, Bregant M, Hernandez H, Noije W van. Successive approximation register ADC single event effects protection and evaluation [Internet]. Journal of Instrumentation. 2022 ; 17( 4):[citado 2024 ago. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/04/C04037
Vancouver
Sanches BC de S, Bregant M, Hernandez H, Noije W van. Successive approximation register ADC single event effects protection and evaluation [Internet]. Journal of Instrumentation. 2022 ; 17( 4):[citado 2024 ago. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/04/C04037
Trabalho de evento-anais periodico
Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices (2013)
Medina, Nilberto H. ; Guazzelli, Marcilei Aparecida ; Added, Nemitala ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Aguirre, F.; Giacomini, R.; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Melo, M. A. A.; Oliveira, J. A.; Santos, R. B. B.; Seixas, L. E.; Tabacniks, Manfredo
Source: IEEE Xplore. Conference titles: European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS). Unidades: IF, EP
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, ACELERADOR DE PARTÍCULAS, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MEDINA, Nilberto H. et al. Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices. IEEE Xplore. New York: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1109/RADECS.2013.6937368. Acesso em: 01 ago. 2024. , 2013
APA
Medina, N. H., Guazzelli, M. A., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Aguirre, F., Giacomini, R., et al. (2013). Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices. IEEE Xplore. New York: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1109/RADECS.2013.6937368
NLM
Medina NH, Guazzelli MA, Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre F, Giacomini R, Macchione ELA, Melo MAA, Oliveira JA, Santos RBB, Seixas LE, Tabacniks M. Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices [Internet]. IEEE Xplore. 2013 ;07.[citado 2024 ago. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/RADECS.2013.6937368
Vancouver
Medina NH, Guazzelli MA, Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre F, Giacomini R, Macchione ELA, Melo MAA, Oliveira JA, Santos RBB, Seixas LE, Tabacniks M. Brazilian facilities to study radiation effects in electronic devices [Internet]. IEEE Xplore. 2013 ;07.[citado 2024 ago. 01 ] Available from: https://doi.org/10.1109/RADECS.2013.6937368

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