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Trabalho de evento-resumo
Coffee elemental analysis via X-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry (2018)
Loureiro, K; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Curado, Jessica Fleury; Medina, Nilberto Heder; Rizzutto, Marcia de Almeida
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FLUORESCÊNCIA, ESPECTROMETRIA, CAFÉ
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ABNT
LOUREIRO, K et al. Coffee elemental analysis via X-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-2.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Loureiro, K., Silveira, M. A. G. da, Curado, J. F., Medina, N. H., & Rizzutto, M. de A. (2018). Coffee elemental analysis via X-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-2.pdf
NLM
Loureiro K, Silveira MAG da, Curado JF, Medina NH, Rizzutto M de A. Coffee elemental analysis via X-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-2.pdf
Vancouver
Loureiro K, Silveira MAG da, Curado JF, Medina NH, Rizzutto M de A. Coffee elemental analysis via X-ray fluorescence and gamma-ray spectrometry [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects (2018)
Barros, Felipe; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
BARROS, Felipe et al. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Barros, F., Silveira, M. A. G. da, Medina, N. H., Added, N., & Aguiar, V. Â. P. de. (2018). Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
NLM
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Vancouver
Barros F, Silveira MAG da, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-3.pdf
Trabalho de evento-resumo
Destructive single-event effects in semiconductor devices (2018)
Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento ; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Menegasso, Ricardo; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Escudeiro, Rafael; Ribas, Roberto Vicençotto; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ALBERTON, Saulo Gabriel Pereira Nascimento et al. Destructive single-event effects in semiconductor devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Alberton, S. G. P. N., Medina, N. H., Added, N., Menegasso, R., Macchione, E. L. A., Aguiar, V. Â. P. de, et al. (2018). Destructive single-event effects in semiconductor devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
NLM
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Vancouver
Alberton SGPN, Medina NH, Added N, Menegasso R, Macchione ELA, Aguiar VÂP de, Escudeiro R, Ribas RV, Silveira MAG da. Destructive single-event effects in semiconductor devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0031-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Corrections in Single Event Effects cross section (2018)
Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Aguirre, Fernando Rodrigues; Medina, Nilberto Heder; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
ADDED, Nemitala et al. Corrections in Single Event Effects cross section. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Aguirre, F. R., Medina, N. H., & Silveira, M. A. G. da. (2018). Corrections in Single Event Effects cross section. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
NLM
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Vancouver
Added N, Aguiar VÂP de, Aguirre FR, Medina NH, Silveira MAG da. Corrections in Single Event Effects cross section [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0068-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Ionizing radiation effects in a rectifier circuit (2018)
Bôas, Alexis Cristiano Vilas; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, RADIAÇÃO IONIZANTE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BÔAS, Alexis Cristiano Vilas e SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da e MEDINA, Nilberto Heder. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-4.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Bôas, A. C. V., Silveira, M. A. G. da, & Medina, N. H. (2018). Ionizing radiation effects in a rectifier circuit. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-4.pdf
NLM
Bôas ACV, Silveira MAG da, Medina NH. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-4.pdf
Vancouver
Bôas ACV, Silveira MAG da, Medina NH. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-4.pdf
Trabalho de evento-resumo
Portable X-ray fluorescence system to measure Th and U concentrations in TENORM material (2018)
Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Pereira, B R; Medina, Nilberto Heder; Rizzutto, Marcia de Almeida
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FLUORESCÊNCIA, FERTILIZANTES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVEIRA, Marcilei Aparecida Guazzelli da et al. Portable X-ray fluorescence system to measure Th and U concentrations in TENORM material. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-1.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Pereira, B. R., Medina, N. H., & Rizzutto, M. de A. (2018). Portable X-ray fluorescence system to measure Th and U concentrations in TENORM material. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-1.pdf
NLM
Silveira MAG da, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure Th and U concentrations in TENORM material [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-1.pdf
Vancouver
Silveira MAG da, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure Th and U concentrations in TENORM material [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0023-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Monte Carlo simulation of the pigments used in ”Natura Morta” (1946) by Mario Mafai (2018)
Allegro, Paula Rangel Pestana; Rizzutto, Marcia de Almeida; Aguero, N F; Curado, Jessica Fleury; Magalhães, Ana Gonçalves; Barbosa, Marcia Sampaio
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidades: IF, MAC
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ARQUEOMETRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALLEGRO, Paula Rangel Pestana et al. Monte Carlo simulation of the pigments used in ”Natura Morta” (1946) by Mario Mafai. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0080-1.pdf. Acesso em: 03 ago. 2024.
APA
Allegro, P. R. P., Rizzutto, M. de A., Aguero, N. F., Curado, J. F., Magalhães, A. G., & Barbosa, M. S. (2018). Monte Carlo simulation of the pigments used in ”Natura Morta” (1946) by Mario Mafai. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0080-1.pdf
NLM
Allegro PRP, Rizzutto M de A, Aguero NF, Curado JF, Magalhães AG, Barbosa MS. Monte Carlo simulation of the pigments used in ”Natura Morta” (1946) by Mario Mafai [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0080-1.pdf
Vancouver
Allegro PRP, Rizzutto M de A, Aguero NF, Curado JF, Magalhães AG, Barbosa MS. Monte Carlo simulation of the pigments used in ”Natura Morta” (1946) by Mario Mafai [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 ago. 03 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0080-1.pdf

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