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  • Unidade: IF

    Assunto: SEMICONDUTORES

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    • ABNT

      DALPIAN, Gustavo Martini. A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores. 2003. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2003. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/. Acesso em: 29 jun. 2024.
    • APA

      Dalpian, G. M. (2003). A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/
    • NLM

      Dalpian GM. A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores [Internet]. 2003 ;[citado 2024 jun. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/
    • Vancouver

      Dalpian GM. A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores [Internet]. 2003 ;[citado 2024 jun. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/

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