Source: Resumos. Conference titles: Reunião Anual de Usuários do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron-LNLS. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FOSCHINI, C. R. e MASTELARO, Valmor Roberto e VARELLA, J. A. Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. 2000, Anais.. Campinas: LNLS, 2000. . Acesso em: 29 jun. 2024.APA
Foschini, C. R., Mastelaro, V. R., & Varella, J. A. (2000). Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. In Resumos. Campinas: LNLS.NLM
Foschini CR, Mastelaro VR, Varella JA. Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. Resumos. 2000 ;[citado 2024 jun. 29 ]Vancouver
Foschini CR, Mastelaro VR, Varella JA. Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. Resumos. 2000 ;[citado 2024 jun. 29 ]