Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante (2000)
- Authors:
- Autor USP: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Reunião Anual de Usuários do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron-LNLS
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ABNT
FOSCHINI, C. R. e MASTELARO, Valmor Roberto e VARELLA, J. A. Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. 2000, Anais.. Campinas: LNLS, 2000. . Acesso em: 12 set. 2024. -
APA
Foschini, C. R., Mastelaro, V. R., & Varella, J. A. (2000). Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. In Resumos. Campinas: LNLS. -
NLM
Foschini CR, Mastelaro VR, Varella JA. Caracterização de filmes finos de Ba'Bi IND. 2''Ta IND. 2''O IND. 9' através da técnica de difração de raios-X em incidência razante. Resumos. 2000 ;[citado 2024 set. 12 ] -
Vancouver
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