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Artigo de periodico
Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide (2024)
Morais, Eliane A; Lemes, Maykon A; Souza, Natalilian R S; Ito, Amando Siuiti ; Duarte, Evandro Luiz ; Silva, Ronaldo Santos da ; Brochsztain, Sérgio ; Souza, Jose A
Source: ACS Omega Volume. Unidades: FFCLRP, IF
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
MORAIS, Eliane A et al. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume, v. 9, n. 20, p. 21680-22508, 2024Tradução . . Acesso em: 11 nov. 2024.
APA
Morais, E. A., Lemes, M. A., Souza, N. R. S., Ito, A. S., Duarte, E. L., Silva, R. S. da, et al. (2024). Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume, 9( 20), 21680-22508. doi:10.1021/acsomega.4c01651
NLM
Morais EA, Lemes MA, Souza NRS, Ito AS, Duarte EL, Silva RS da, Brochsztain S, Souza JA. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume. 2024 ; 9( 20): 21680-22508.[citado 2024 nov. 11 ]
Vancouver
Morais EA, Lemes MA, Souza NRS, Ito AS, Duarte EL, Silva RS da, Brochsztain S, Souza JA. Unraveling Interfacial Photoinduced Charge Transfer andLocalization in CsPbBr3 Nanocrystals/Naphthalenediimide. ACS Omega Volume. 2024 ; 9( 20): 21680-22508.[citado 2024 nov. 11 ]
Dissertação (Mestrado)
Síntese de filmes nanocompósitos de hidroxiapatita e óxido de grafeno reduzido em titânio (2023)
Lara, Nícolas; Bernardi, Maria Ines Basso (Orientador)
Unidade: EESC
Subjects: NANOCOMPOSITOS, FILMES FINOS, REVESTIMENTOS, HIDROXIAPATITA
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ABNT
LARA, Nícolas. Síntese de filmes nanocompósitos de hidroxiapatita e óxido de grafeno reduzido em titânio. 2023. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2023. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18158/tde-10032023-083054/. Acesso em: 11 nov. 2024.
APA
Lara, N. (2023). Síntese de filmes nanocompósitos de hidroxiapatita e óxido de grafeno reduzido em titânio (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18158/tde-10032023-083054/
NLM
Lara N. Síntese de filmes nanocompósitos de hidroxiapatita e óxido de grafeno reduzido em titânio [Internet]. 2023 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18158/tde-10032023-083054/
Vancouver
Lara N. Síntese de filmes nanocompósitos de hidroxiapatita e óxido de grafeno reduzido em titânio [Internet]. 2023 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/18/18158/tde-10032023-083054/
Dissertação (Mestrado)
Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS (2021)
Lima, Filipe Gomes de ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira (Orientador)
Unidade: IF
Subjects: NANOPARTÍCULAS, FILMES FINOS, MATERIAIS COMPÓSITOS
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ABNT
LIMA, Filipe Gomes de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS. 2021. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2021. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/. Acesso em: 11 nov. 2024.
APA
Lima, F. G. de. (2021). Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/
NLM
Lima FG de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS [Internet]. 2021 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/
Vancouver
Lima FG de. Análise de compósitos de nanopartícula de prata em matriz polimérica como substratos SERS [Internet]. 2021 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-07122021-122634/
Relatorio tecnico
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories (2020)
Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira ; Teixeira, Fernanda de Sá
Unidade: IF
Subjects: FÍSICA ATÔMICA, FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e TEIXEIRA, Fernanda de Sá. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf. Acesso em: 11 nov. 2024. , 2020
APA
Cattani, M. S. D., Salvadori, M. C. B. da S., & Teixeira, F. de S. (2020). SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf
NLM
Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf
Vancouver
Cattani MSD, Salvadori MCB da S, Teixeira F de S. SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films: a brief review of SAXS theories [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/0907/0907.3131.pdf
Tese (Doutorado)
Óxidos nanoestruturados e complexos de Re(I) para dispositivos optoeletrônicos (2020)
Matos, Lais Sottili de ; Iha, Neyde Yukie Murakami (Orientador)
Unidade: IQ
Subjects: FILMES FINOS, RÊNIO, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS
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ABNT
MATOS, Lais Sottili de. Óxidos nanoestruturados e complexos de Re(I) para dispositivos optoeletrônicos. 2020. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2020. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/46/46136/tde-08112021-171031/. Acesso em: 11 nov. 2024.
APA
Matos, L. S. de. (2020). Óxidos nanoestruturados e complexos de Re(I) para dispositivos optoeletrônicos (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/46/46136/tde-08112021-171031/
NLM
Matos LS de. Óxidos nanoestruturados e complexos de Re(I) para dispositivos optoeletrônicos [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/46/46136/tde-08112021-171031/
Vancouver
Matos LS de. Óxidos nanoestruturados e complexos de Re(I) para dispositivos optoeletrônicos [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/46/46136/tde-08112021-171031/
Relatorio tecnico
Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2020)
Fornari, Celso I; Abramof, Eduardo; Rappl, Paulo H O; Kycia, Stefan W; Morelhão, Sergio Luiz
Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, BISMUTO
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ABNT
FORNARI, Celso I et al. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf. Acesso em: 11 nov. 2024. , 2020
APA
Fornari, C. I., Abramof, E., Rappl, P. H. O., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2020). Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
NLM
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Vancouver
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Trabalho de evento-anais periodico
The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization (2017)
Cassimiro, Vinicius Roberto de Sylos; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Rehder, Gustavo Pamplona ; Cunha Junior, Rubens Martins; Trcera, Nicolas
Source: Proceedings Science BWSP. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 11 nov. 2024. , 2017
APA
Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
NLM
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Vancouver
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Trabalho de evento-anais periodico
Characterization and Evaluation of Ti-Zr-V Non-evaporable Getter Films Used in Vacuum Systems (2012)
Ferreira, M. J.; Seraphim, R. M.; Ramirez, Antonio Jose ; Tabacniks, Manfredo ; Nascente, P.A.P.
Source: Physics Procedia. Conference titles: International Vacuum Congress. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, NANOTECNOLOGIA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, MICROSCOPIA ELETRÔNICA, VÁCUO, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FERREIRA, M. J. et al. Characterization and Evaluation of Ti-Zr-V Non-evaporable Getter Films Used in Vacuum Systems. Physics Procedia. Amsterdam: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.phpro.2012.03.644. Acesso em: 11 nov. 2024. , 2012
APA
Ferreira, M. J., Seraphim, R. M., Ramirez, A. J., Tabacniks, M., & Nascente, P. A. P. (2012). Characterization and Evaluation of Ti-Zr-V Non-evaporable Getter Films Used in Vacuum Systems. Physics Procedia. Amsterdam: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/j.phpro.2012.03.644
NLM
Ferreira MJ, Seraphim RM, Ramirez AJ, Tabacniks M, Nascente PAP. Characterization and Evaluation of Ti-Zr-V Non-evaporable Getter Films Used in Vacuum Systems [Internet]. Physics Procedia. 2012 ; 32 840-852.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.phpro.2012.03.644
Vancouver
Ferreira MJ, Seraphim RM, Ramirez AJ, Tabacniks M, Nascente PAP. Characterization and Evaluation of Ti-Zr-V Non-evaporable Getter Films Used in Vacuum Systems [Internet]. Physics Procedia. 2012 ; 32 840-852.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.phpro.2012.03.644
Artigo de periodico
Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer (2010)
Albertin, Katia Franklin ; Pereyra, Inés
Source: Physica Status Solidi (C). Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, SEMICONDUTORES, DIELÉTRICOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTIN, Katia Franklin e PEREYRA, Inés. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solidi (C), v. 7, n. 3-4, p. 937-940, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/pssc.200982656. Acesso em: 11 nov. 2024.
APA
Albertin, K. F., & Pereyra, I. (2010). Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer. Physica Status Solidi (C), 7( 3-4), 937-940. doi:10.1002/pssc.200982656
NLM
Albertin KF, Pereyra I. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer [Internet]. Physica Status Solidi (C). 2010 ; 7( 3-4): 937-940.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssc.200982656
Vancouver
Albertin KF, Pereyra I. Study of metal-oxide-semiconductor capacitors with r.f. magnetron sputtering TiOxNy films dielectric layer [Internet]. Physica Status Solidi (C). 2010 ; 7( 3-4): 937-940.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1002/pssc.200982656
Trabalho de evento-anais periodico
The effect of N+ ion energy on the properties of ion bombarded plasma polymer films (2001)
Rangel, Elidiane Cipriano ; Cruz, Nilson Cristino da ; Tabacniks, Manfredo ; Lepienski, Carlos Mauricio
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Conference titles: International Conference on Ion Beam Modification of Materials. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ÍONS, POLÍMEROS (MATERIAIS), ELETROQUÍMICA, FÍSICA DE PLASMAS, ESPECTROSCOPIA ULTRAVIOLETA, ABSORÇÃO DA LUZ
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RANGEL, Elidiane Cipriano et al. The effect of N+ ion energy on the properties of ion bombarded plasma polymer films. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Amsterdam: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/S0168-583X(00)00646-7. Acesso em: 11 nov. 2024. , 2001
APA
Rangel, E. C., Cruz, N. C. da, Tabacniks, M., & Lepienski, C. M. (2001). The effect of N+ ion energy on the properties of ion bombarded plasma polymer films. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Amsterdam: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/S0168-583X(00)00646-7
NLM
Rangel EC, Cruz NC da, Tabacniks M, Lepienski CM. The effect of N+ ion energy on the properties of ion bombarded plasma polymer films [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2001 ; 175-177 594-598.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/S0168-583X(00)00646-7
Vancouver
Rangel EC, Cruz NC da, Tabacniks M, Lepienski CM. The effect of N+ ion energy on the properties of ion bombarded plasma polymer films [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2001 ; 175-177 594-598.[citado 2024 nov. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/S0168-583X(00)00646-7

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