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Dissertação (Mestrado)
Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados (2007)
Teixeira, Fernanda de Sá; Mansano, Ronaldo Domingues (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, PLASMA (MICROELETRÔNICA)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
TEIXEIRA, Fernanda de Sá. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados. 2007. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2007. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-27072007-175354/. Acesso em: 03 out. 2024.
APA
Teixeira, F. de S. (2007). Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-27072007-175354/
NLM
Teixeira F de S. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados [Internet]. 2007 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-27072007-175354/
Vancouver
Teixeira F de S. Anisotropia de resistividade elétrica em filmes finos nanoestruturados [Internet]. 2007 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-27072007-175354/
Artigo de periodico
Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer (2007)
Teixeira, Fernanda de Sá; Mansano, Ronaldo Domingues ; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Brown, I G
Source: Review of Scientific Instruments. Unidades: EP, IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, POLÍMEROS (MATERIAIS)
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ABNT
TEIXEIRA, Fernanda de Sá et al. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer. Review of Scientific Instruments, v. 78, n. 4, p. 053702-053702/3, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2736311. Acesso em: 03 out. 2024.
APA
Teixeira, F. de S., Mansano, R. D., Salvadori, M. C. B. da S., Cattani, M. S. D., & Brown, I. G. (2007). Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer. Review of Scientific Instruments, 78( 4), 053702-053702/3. doi:10.1063/1.2736311
NLM
Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 4): 053702-053702/3.[citado 2024 out. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2736311
Vancouver
Teixeira F de S, Mansano RD, Salvadori MCB da S, Cattani MSD, Brown IG. Atomic force microscope nanolithography of polymethylmethacrylate polymer [Internet]. Review of Scientific Instruments. 2007 ; 78( 4): 053702-053702/3.[citado 2024 out. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2736311

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