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  • Curadoria

    Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications (2022)

    Kassab, Luciana Reyes Pires (cur) ; Araújo, Cid Bartolomeu de (cur); Ferrari, Maurizio (cur); Mendonça, Cleber Renato (cur)

    Unidade: IFSC

    Subjects: MATERIAIS, FOTÔNICA, PESQUISA CIENTÍFICA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications. . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. . Acesso em: 14 jul. 2024. , 2022

    • APA

      Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications. (2022). Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.

    • NLM

      Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications. 2022 ;[citado 2024 jul. 14 ]

    • Vancouver

      Symposium O: Breakthroughs in Photonic Materials: optical properties and applications. 2022 ;[citado 2024 jul. 14 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) (2018)

    Gomes, Douglas José Correia; Pace, Giuseppina; Caironi, Mario; Miranda, Paulo Barbeitas

    Source: Program. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC

    Subjects: POLÍMEROS (MATERIAIS), SEMICONDUTORES, FILMES FINOS

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      GOMES, Douglas José Correia et al. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). 2018, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2018. Disponível em: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW. Acesso em: 14 jul. 2024.

    • APA

      Gomes, D. J. C., Pace, G., Caironi, M., & Miranda, P. B. (2018). Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

    • NLM

      Gomes DJC, Pace G, Caironi M, Miranda PB. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) [Internet]. Program. 2018 ;[citado 2024 jul. 14 ] Available from: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

    • Vancouver

      Gomes DJC, Pace G, Caironi M, Miranda PB. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) [Internet]. Program. 2018 ;[citado 2024 jul. 14 ] Available from: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW

  • Trabalho de evento-resumo

    Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors (2017)

    Gomes, Douglas José Correia; Motti, Silvia Genaro; Miranda, Paulo Barbeitas

    Source: Program Book. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC

    Subjects: TRANSISTORES, DIELÉTRICOS

    Acesso à fonteHow to cite
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    • ABNT

      GOMES, Douglas José Correia e MOTTI, Silvia Genaro e MIRANDA, Paulo Barbeitas. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors. 2017, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2017. Disponível em: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV. Acesso em: 14 jul. 2024.

    • APA

      Gomes, D. J. C., Motti, S. G., & Miranda, P. B. (2017). Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV

    • NLM

      Gomes DJC, Motti SG, Miranda PB. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors [Internet]. Program Book. 2017 ;[citado 2024 jul. 14 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV

    • Vancouver

      Gomes DJC, Motti SG, Miranda PB. Using sum-frequency generation (SFG) to probe electric-fields within organic field-effect transistors [Internet]. Program Book. 2017 ;[citado 2024 jul. 14 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xvisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=BPWV
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