Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) (2018)
- Authors:
- Autor USP: MIRANDA, PAULO BARBEITAS - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: POLÍMEROS (MATERIAIS); SEMICONDUTORES; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2018
- Source:
- Título: Program
- Conference titles: Brazilian MRS Meeting
-
ABNT
GOMES, Douglas José Correia et al. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). 2018, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2018. Disponível em: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW. Acesso em: 07 out. 2024. -
APA
Gomes, D. J. C., Pace, G., Caironi, M., & Miranda, P. B. (2018). Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM). In Program. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW -
NLM
Gomes DJC, Pace G, Caironi M, Miranda PB. Probing charge density in organic transistors by Charge Modulation Microscopy (CMM) [Internet]. Program. 2018 ;[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://new.eventweb.com.br/xviisbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=4GGW -
Vancouver
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