Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura (2000)
Conference titles: Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA/USP. Unidades: FCFRP, ESALQAssunto: MINERALOGIA
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ABNT
LOPES, Guido N. et al. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000, Anais.. Piracicaba: CENA-USP, 2000. . Acesso em: 22 fev. 2025.APA
Lopes, G. N., Sampaio, N. P., Zucchi, O. L. A. D., & Nascimento Filho, V. F. do. (2000). Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. In . Piracicaba: CENA-USP.NLM
Lopes GN, Sampaio NP, Zucchi OLAD, Nascimento Filho VF do. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000 ;[citado 2025 fev. 22 ]Vancouver
Lopes GN, Sampaio NP, Zucchi OLAD, Nascimento Filho VF do. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000 ;[citado 2025 fev. 22 ]
