Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: ZUCCHI, ORGHEDA LUIZA ARAUJO DOMINGUES - FCFRP ; NASCIMENTO FILHO, VIRGILIO FRANCO DO - ESALQ
- Unidades: FCFRP; ESALQ
- Assunto: MINERALOGIA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: CENA-USP
- Publisher place: Piracicaba
- Date published: 2000
- Conference titles: Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA/USP
-
ABNT
LOPES, Guido N. et al. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000, Anais.. Piracicaba: CENA-USP, 2000. . Acesso em: 19 nov. 2024. -
APA
Lopes, G. N., Sampaio, N. P., Zucchi, O. L. A. D., & Nascimento Filho, V. F. do. (2000). Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. In . Piracicaba: CENA-USP. -
NLM
Lopes GN, Sampaio NP, Zucchi OLAD, Nascimento Filho VF do. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000 ;[citado 2024 nov. 19 ] -
Vancouver
Lopes GN, Sampaio NP, Zucchi OLAD, Nascimento Filho VF do. Avaliação de fraturas e defeitos pontuais em gemas por microspia eletrônica de varredura. 2000 ;[citado 2024 nov. 19 ] - Quality control of commercial tea by X-ray fluorescence
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