Stress-related effects on the C-V characteristics of pseudomorphic MODFETs (1998)
Source: Proceedings. Conference titles: European Solid-State Device Research Conference. Unidades: EESC, IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
MANZOLI, J E e ROMERO, Murilo Araújo e HIPÓLITO, Oscar. Stress-related effects on the C-V characteristics of pseudomorphic MODFETs. 1998, Anais.. Bordeaux: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1998. . Acesso em: 07 out. 2024.APA
Manzoli, J. E., Romero, M. A., & Hipólito, O. (1998). Stress-related effects on the C-V characteristics of pseudomorphic MODFETs. In Proceedings. Bordeaux: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo.NLM
Manzoli JE, Romero MA, Hipólito O. Stress-related effects on the C-V characteristics of pseudomorphic MODFETs. Proceedings. 1998 ;[citado 2024 out. 07 ]Vancouver
Manzoli JE, Romero MA, Hipólito O. Stress-related effects on the C-V characteristics of pseudomorphic MODFETs. Proceedings. 1998 ;[citado 2024 out. 07 ]
