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Artigo de periodico
Da certificação de produtos (2012)
Bodinaud, Jean Albert
Source: Banas Qualidade. Unidade: IEE
Assunto: NORMALIZAÇÃO DE PRODUTOS
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ABNT
BODINAUD, Jean Albert. Da certificação de produtos. Banas Qualidade, v. fe2012, n. 237, p. 26, 2012Tradução . . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Bodinaud, J. A. (2012). Da certificação de produtos. Banas Qualidade, fe2012(237), 26.
NLM
Bodinaud JA. Da certificação de produtos. Banas Qualidade. 2012 ;fe2012(237):26.[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Bodinaud JA. Da certificação de produtos. Banas Qualidade. 2012 ;fe2012(237):26.[citado 2024 nov. 09 ]
Artigo de periodico
Outro olhar sobre normalização técnica de produtos (2011)
Bodinaud, Jean Albert
Source: Banas Qualidade. Unidade: IEE
Assunto: NORMALIZAÇÃO DE PRODUTOS
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ABNT
BODINAUD, Jean Albert. Outro olhar sobre normalização técnica de produtos. Banas Qualidade, v. 21, n. 233, p. 61, 2011Tradução . . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Bodinaud, J. A. (2011). Outro olhar sobre normalização técnica de produtos. Banas Qualidade, 21( 233), 61.
NLM
Bodinaud JA. Outro olhar sobre normalização técnica de produtos. Banas Qualidade. 2011 ; 21( 233): 61.[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Bodinaud JA. Outro olhar sobre normalização técnica de produtos. Banas Qualidade. 2011 ; 21( 233): 61.[citado 2024 nov. 09 ]
Artigo de periodico
Segurança de Equipamentos Eletromédicos: O Processo de Certificação (1997)
Costa, P. R. ; Bodinaud, J. A.
Source: Jornal do Colégio Brasileiro de Radiologia. Unidades: IF, IEE
Subjects: MEDICINA NUCLEAR, FÍSICA MÉDICA, RADIOLOGIA
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ABNT
COSTA, P. R. e BODINAUD, J. A. Segurança de Equipamentos Eletromédicos: O Processo de Certificação. Jornal do Colégio Brasileiro de Radiologia, v. 110, 1997Tradução . . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Costa, P. R., & Bodinaud, J. A. (1997). Segurança de Equipamentos Eletromédicos: O Processo de Certificação. Jornal do Colégio Brasileiro de Radiologia, 110.
NLM
Costa PR, Bodinaud JA. Segurança de Equipamentos Eletromédicos: O Processo de Certificação. Jornal do Colégio Brasileiro de Radiologia. 1997 ;110[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Costa PR, Bodinaud JA. Segurança de Equipamentos Eletromédicos: O Processo de Certificação. Jornal do Colégio Brasileiro de Radiologia. 1997 ;110[citado 2024 nov. 09 ]
Trabalho de evento
Casador de impedancia para microfone de eletreto (1986)
Gimenez, Salvador Pinillos ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier ; Bodinaud, Jean Albert; Montoro, Carlos Galup
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: IEE, EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
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ABNT
GIMENEZ, Salvador Pinillos et al. Casador de impedancia para microfone de eletreto. 1986, Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Gimenez, S. P., Ramírez Fernandez, F. J., Bodinaud, J. A., & Montoro, C. G. (1986). Casador de impedancia para microfone de eletreto. In Anais. Campinas: Sbmicro/Telebras.
NLM
Gimenez SP, Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA, Montoro CG. Casador de impedancia para microfone de eletreto. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Gimenez SP, Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA, Montoro CG. Casador de impedancia para microfone de eletreto. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]
Trabalho de evento
Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados (1986)
Bodinaud, Jean Albert; Montoro, Carlos Galup
Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: IEE, EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
BODINAUD, Jean Albert e MONTORO, Carlos Galup. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986, Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Bodinaud, J. A., & Montoro, C. G. (1986). Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. In . Campinas: Sbmicro/Telebras.
NLM
Bodinaud JA, Montoro CG. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Bodinaud JA, Montoro CG. Metodologia estatistica para o projeto eletrico de circuitos integrados. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]
Trabalho de evento
Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados (1986)
Ramírez Fernandez, Francisco Javier ; Bodinaud, Jean Albert
Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: EP, IEE
Subjects: TRANSISTORES, CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier e BODINAUD, Jean Albert. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. 1986, Anais.. Campinas: Sbmicro/Telebras, 1986. . Acesso em: 09 nov. 2024.
APA
Ramírez Fernandez, F. J., & Bodinaud, J. A. (1986). Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. In Anais. Campinas: Sbmicro/Telebras.
NLM
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]
Vancouver
Ramírez Fernandez FJ, Bodinaud JA. Caracterizacao e modelamento de transistores para analise estatistica de circuitos integrados. Anais. 1986 ;[citado 2024 nov. 09 ]

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