Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria (1992)
Unidade: IFQSCSubjects: MATÉRIA CONDENSADA, SUPERFÍCIE FÍSICA, MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria. 1992. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 1992. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/. Acesso em: 08 set. 2024.APA
Barros Filho, D. de A. (1992). Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/NLM
Barros Filho D de A. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;[citado 2024 set. 08 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/Vancouver
Barros Filho D de A. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;[citado 2024 set. 08 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/