Análise de superfície de filmes finos de cobre (2002)
Source: SIICUSP;CICTE: resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da USP. Unidade: EP
Assunto: FILMES FINOS
ABNT
CARVALHO, Alexsander Tressino de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SILVA, Maria Lucia Pereira da. Análise de superfície de filmes finos de cobre. 2002, Anais.. São Paulo: USP, 2002. Disponível em: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm. Acesso em: 04 out. 2024.APA
Carvalho, A. T. de, Santos Filho, S. G. dos, & Silva, M. L. P. da. (2002). Análise de superfície de filmes finos de cobre. In SIICUSP;CICTE: resumos. São Paulo: USP. Recuperado de http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htmNLM
Carvalho AT de, Santos Filho SG dos, Silva MLP da. Análise de superfície de filmes finos de cobre [Internet]. SIICUSP;CICTE: resumos. 2002 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htmVancouver
Carvalho AT de, Santos Filho SG dos, Silva MLP da. Análise de superfície de filmes finos de cobre [Internet]. SIICUSP;CICTE: resumos. 2002 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: http://www.usp.br/siicusp/10osiicusp/cd_2002/index01.htm