Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" (2004)
Sánchez, M. A. E; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu 
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, FILMES FINOS
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ABNT
SÁNCHEZ, M. A. E e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ". 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf. Acesso em: 04 jul. 2024.APA
Sánchez, M. A. E., & Fantini, M. C. de A. (2004). Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ". In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdfNLM
Sánchez MAE, Fantini MC de A. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 jul. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdfVancouver
Sánchez MAE, Fantini MC de A. Filmes finos sobre Be para medidas de difração de Raios X "in-situ" [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 jul. 04 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0668-1.pdf
