Fonte: Resumos. Nome do evento: Reunião da Sociedade Brasileira de Cristalografia. Unidade: IF
Assunto: CRISTALOGRAFIA
ABNT
SCOPEL, Wanderla Luis et al. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. 2000, Anais.. Campinas: LNLS, 2000. . Acesso em: 08 nov. 2024.APA
Scopel, W. L., Cuzinatto, R. R., Tabacniks, M. H., Fantini, M. C. de A., Alayo Chávez, M. I., & Pereira, I. (2000). Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. In Resumos. Campinas: LNLS.NLM
Scopel WL, Cuzinatto RR, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereira I. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. Resumos. 2000 ;[citado 2024 nov. 08 ]Vancouver
Scopel WL, Cuzinatto RR, Tabacniks MH, Fantini MC de A, Alayo Chávez MI, Pereira I. Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício. Resumos. 2000 ;[citado 2024 nov. 08 ]