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Artigo de periodico
Measurement of critical exponents of platinum thin films (2003)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Melo, L L; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa ; Monteiro, O R; Brown, L G
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, FILMES FINOS, SUPERFÍCIE FÍSICA
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ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Measurement of critical exponents of platinum thin films. Surface Review and Letters, v. 10, n. 1, p. 1-5, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf. Acesso em: 29 jul. 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Cattani, M. S. D., Monteiro, O. R., & Brown, L. G. (2003). Measurement of critical exponents of platinum thin films. Surface Review and Letters, 10( 1), 1-5. Recuperado de http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf
NLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Cattani MSD, Monteiro OR, Brown LG. Measurement of critical exponents of platinum thin films [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ; 10( 1): 1-5.[citado 2024 jul. 29 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf
Vancouver
Salvadori MCB da S, Melo LL, Cattani MSD, Monteiro OR, Brown LG. Measurement of critical exponents of platinum thin films [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ; 10( 1): 1-5.[citado 2024 jul. 29 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf
Artigo de periodico
Measurement of critical exponents of nanostructured gold thin films (2003)
Melo, L L; Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA
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ABNT
MELO, L L e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira e CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa. Measurement of critical exponents of nanostructured gold thin films. Surface Review and Letters, 2003Tradução . . Acesso em: 29 jul. 2024.
APA
Melo, L. L., Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2003). Measurement of critical exponents of nanostructured gold thin films. Surface Review and Letters.
NLM
Melo LL, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Measurement of critical exponents of nanostructured gold thin films. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 jul. 29 ]
Vancouver
Melo LL, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Measurement of critical exponents of nanostructured gold thin films. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 jul. 29 ]
Artigo de periodico
Nanostructured gold thin films: young modulus measurement (2003)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Vaz, A R; Melo, L L; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FILMES FINOS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA
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ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement. Surface Review and Letters, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf. Acesso em: 29 jul. 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Vaz, A. R., Melo, L. L., & Cattani, M. S. D. (2003). Nanostructured gold thin films: young modulus measurement. Surface Review and Letters. Recuperado de http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
NLM
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 jul. 29 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
Vancouver
Salvadori MCB da S, Vaz AR, Melo LL, Cattani MSD. Nanostructured gold thin films: young modulus measurement [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ;[citado 2024 jul. 29 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1004/S0218625X03005323.pdf
Artigo de periodico
Critical exponent measurement of poor quality diamond films (2002)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Melo, L L; Martins, Deilton Reis; Vaz, A R; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, DIAMANTE (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), MATERIAIS, MUDANÇA DE FASE
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ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, v. 9, n. 3-4, p. 1409-1412, 2002Tradução . . Acesso em: 29 jul. 2024.
APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Martins, D. R., Vaz, A. R., & Cattani, M. S. D. (2002). Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters, 9( 3-4), 1409-1412.
NLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2024 jul. 29 ]
Vancouver
Salvadori MCB da S, Melo LL, Martins DR, Vaz AR, Cattani MSD. Critical exponent measurement of poor quality diamond films. Surface Review and Letters. 2002 ; 9( 3-4): 1409-1412.[citado 2024 jul. 29 ]

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