Vergílio, Sílvia Regina; Maldonado, José Carlos 
; Jino, Mário
Assunto: SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
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ABNT
VERGÍLIO, Sílvia Regina e MALDONADO, José Carlos e JINO, Mário. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001, Anais.. [S.l.]: Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 23 ago. 2024.APA
Vergílio, S. R., Maldonado, J. C., & Jino, M. (2001). Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. In . Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo.NLM
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 ago. 23 ]Vancouver
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 ago. 23 ]
