Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos (2001)
- Autores:
- Autor USP: MALDONADO, JOSE CARLOS - ICMC
- Unidade: ICMC
- Assunto: SISTEMAS DE INFORMAÇÃO
- Idioma: Português
- Nome do evento: Conferencia Latinoamericana de Informatica
-
ABNT
VERGÍLIO, Sílvia Regina e MALDONADO, José Carlos e JINO, Mário. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001, Anais.. [S.l.]: Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 30 set. 2024. -
APA
Vergílio, S. R., Maldonado, J. C., & Jino, M. (2001). Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. In . Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação, Universidade de São Paulo. -
NLM
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 set. 30 ] -
Vancouver
Vergílio SR, Maldonado JC, Jino M. Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos. 2001 ;[citado 2024 set. 30 ] - Visao sobre a aplicacao da analise de mutantes
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