Filtros : "Dabrowski, J." Limpar

Filtros



Refine with date range


  • Source: Physical Review B. Unidade: IF

    Subjects: SUPERFÍCIE FÍSICA, FILMES FINOS

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      DABROWSKI, J. et al. Mechanism of dopant segregation to 'SiO IND.2'/Si(001) interfaces. Physical Review B, v. 65, n. 24, p. 245305/1-245305/11, 2002Tradução . . Disponível em: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=PRBMDO000065000024245305000001&idtype=cvips. Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Dabrowski, J., Müssig, H. -J., Zavodinsky, V., Baierle, R. J., & Caldas, M. J. (2002). Mechanism of dopant segregation to 'SiO IND.2'/Si(001) interfaces. Physical Review B, 65( 24), 245305/1-245305/11. Recuperado de http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=PRBMDO000065000024245305000001&idtype=cvips
    • NLM

      Dabrowski J, Müssig H-J, Zavodinsky V, Baierle RJ, Caldas MJ. Mechanism of dopant segregation to 'SiO IND.2'/Si(001) interfaces [Internet]. Physical Review B. 2002 ; 65( 24): 245305/1-245305/11.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=PRBMDO000065000024245305000001&idtype=cvips
    • Vancouver

      Dabrowski J, Müssig H-J, Zavodinsky V, Baierle RJ, Caldas MJ. Mechanism of dopant segregation to 'SiO IND.2'/Si(001) interfaces [Internet]. Physical Review B. 2002 ; 65( 24): 245305/1-245305/11.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=PRBMDO000065000024245305000001&idtype=cvips
  • Source: Journal of Vacuum Science & Technology B. Unidade: IF

    Assunto: FÍSICA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      DABROWSKI, J. et al. Mechanism of dopant segregation to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Journal of Vacuum Science & Technology B, v. 18, n. 4, p. 2160-2164, 2000Tradução . . Disponível em: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=JVTBD9000018000004002160000001&idtype=cvips. Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Dabrowski, J., Casali, R. A., Mussig, H. J., Baierle, R. J., & Caldas, M. J. (2000). Mechanism of dopant segregation to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Journal of Vacuum Science & Technology B, 18( 4), 2160-2164. Recuperado de http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=JVTBD9000018000004002160000001&idtype=cvips
    • NLM

      Dabrowski J, Casali RA, Mussig HJ, Baierle RJ, Caldas MJ. Mechanism of dopant segregation to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2000 ; 18( 4): 2160-2164.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=JVTBD9000018000004002160000001&idtype=cvips
    • Vancouver

      Dabrowski J, Casali RA, Mussig HJ, Baierle RJ, Caldas MJ. Mechanism of dopant segregation to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces [Internet]. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2000 ; 18( 4): 2160-2164.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: http://ojps.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=JVTBD9000018000004002160000001&idtype=cvips
  • Source: Materials Science in Semiconductor Processing. Unidade: IF

    Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      DABROWSKI, J. et al. Segregation of phosphorus to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Materials Science in Semiconductor Processing, v. 3, n. 1-2, p. 85-89, 2000Tradução . . Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Dabrowski, J., Mussig, H. J., Baierle, R. J., Caldas, M. J., & Zavodinsky, V. (2000). Segregation of phosphorus to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Materials Science in Semiconductor Processing, 3( 1-2), 85-89.
    • NLM

      Dabrowski J, Mussig HJ, Baierle RJ, Caldas MJ, Zavodinsky V. Segregation of phosphorus to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Materials Science in Semiconductor Processing. 2000 ; 3( 1-2): 85-89.[citado 2026 abr. 27 ]
    • Vancouver

      Dabrowski J, Mussig HJ, Baierle RJ, Caldas MJ, Zavodinsky V. Segregation of phosphorus to Si'O IND.2'/Si(001) interfaces. Materials Science in Semiconductor Processing. 2000 ; 3( 1-2): 85-89.[citado 2026 abr. 27 ]
  • Source: Physica B. Unidade: IF

    Subjects: FÍSICA, INTERFACE

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      BAIERLE, Rogerio Jose et al. A unified microscopic mechanism for donor deactivation in Si. Physica B, v. 274, p. 260-263, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0921-4526(99)00477-9. Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Baierle, R. J., Caldas, M. J., Dabrowski, J., Mussig, H. J., & Zavodinsky, V. (1999). A unified microscopic mechanism for donor deactivation in Si. Physica B, 274, 260-263. doi:10.1016/s0921-4526(99)00477-9
    • NLM

      Baierle RJ, Caldas MJ, Dabrowski J, Mussig HJ, Zavodinsky V. A unified microscopic mechanism for donor deactivation in Si [Internet]. Physica B. 1999 ; 274 260-263.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0921-4526(99)00477-9
    • Vancouver

      Baierle RJ, Caldas MJ, Dabrowski J, Mussig HJ, Zavodinsky V. A unified microscopic mechanism for donor deactivation in Si [Internet]. Physica B. 1999 ; 274 260-263.[citado 2026 abr. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0921-4526(99)00477-9
  • Source: International of Quantum Chemistry. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      FAZZIO, Adalberto et al. Anion-antisite-defects in 'GA''AS': 'AS' and 'SB'. International of Quantum Chemistry, v. 24, p. 563-8, 1990Tradução . . Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Fazzio, A., Caldas, M. J., Dabrowski, J., & Scheffler, M. (1990). Anion-antisite-defects in 'GA''AS': 'AS' and 'SB'. International of Quantum Chemistry, 24, 563-8.
    • NLM

      Fazzio A, Caldas MJ, Dabrowski J, Scheffler M. Anion-antisite-defects in 'GA''AS': 'AS' and 'SB'. International of Quantum Chemistry. 1990 ;24 563-8.[citado 2026 abr. 27 ]
    • Vancouver

      Fazzio A, Caldas MJ, Dabrowski J, Scheffler M. Anion-antisite-defects in 'GA''AS': 'AS' and 'SB'. International of Quantum Chemistry. 1990 ;24 563-8.[citado 2026 abr. 27 ]
  • Source: Physical Review Letters. Unidade: IF

    Assunto: MATÉRIA CONDENSADA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      CALDAS, Marilia Junqueira et al. Anion-antisite-like defects in iii-v compounds. Physical Review Letters, v. 65, n. 16, p. 2046-9, 1990Tradução . . Acesso em: 27 abr. 2026.
    • APA

      Caldas, M. J., Dabrowski, J., Fazzio, A., & Scheffler, M. (1990). Anion-antisite-like defects in iii-v compounds. Physical Review Letters, 65( 16), 2046-9.
    • NLM

      Caldas MJ, Dabrowski J, Fazzio A, Scheffler M. Anion-antisite-like defects in iii-v compounds. Physical Review Letters. 1990 ;65( 16): 2046-9.[citado 2026 abr. 27 ]
    • Vancouver

      Caldas MJ, Dabrowski J, Fazzio A, Scheffler M. Anion-antisite-like defects in iii-v compounds. Physical Review Letters. 1990 ;65( 16): 2046-9.[citado 2026 abr. 27 ]

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2026