Measurement of critical exponents of platinum thin films (2003)
Salvadori, Maria Cecília Barbosa da Silveira; Melo, L L; Cattani, Mauro Sérgio Dorsa 
; Monteiro, O R; Brown, L G
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, FILMES FINOS, SUPERFÍCIE FÍSICA
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ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Measurement of critical exponents of platinum thin films. Surface Review and Letters, v. 10, n. 1, p. 1-5, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf. Acesso em: 28 ago. 2024.APA
Salvadori, M. C. B. da S., Melo, L. L., Cattani, M. S. D., Monteiro, O. R., & Brown, L. G. (2003). Measurement of critical exponents of platinum thin films. Surface Review and Letters, 10( 1), 1-5. Recuperado de http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdfNLM
Salvadori MCB da S, Melo LL, Cattani MSD, Monteiro OR, Brown LG. Measurement of critical exponents of platinum thin films [Internet]. Surface Review and Letters. 2003 ; 10( 1): 1-5.[citado 2024 ago. 28 ] Available from: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdfVancouver
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