Measurement of critical exponents of platinum thin films (2003)
Source: Surface Review and Letters. Unidade: IF
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, FILMES FINOS, SUPERFÍCIE FÍSICA
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ABNT
SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira et al. Measurement of critical exponents of platinum thin films. Surface Review and Letters, v. 10, n. 1, p. 1-5, 2003Tradução . . Disponível em: http://www.worldscinet.com/srl/10/preserved-docs/1001/S0218625X03004561.pdf. Acesso em: 28 ago. 2024.APA
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