Fonte: Anais. Nome do evento: Congresso Brasileiro de Ceramica. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
ALVES, V A et al. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. 1994, Anais.. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica, 1994. . Acesso em: 22 ago. 2024.APA
Alves, V. A., Silva, L. A., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1994). Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. In Anais. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica.NLM
Alves VA, Silva LA, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Anais. 1994 ;[citado 2024 ago. 22 ]Vancouver
Alves VA, Silva LA, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Anais. 1994 ;[citado 2024 ago. 22 ]