Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC ; SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Associacao Brasileira de Ceramica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica
-
ABNT
ALVES, V A et al. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. 1994, Anais.. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica, 1994. . Acesso em: 21 maio 2025. -
APA
Alves, V. A., Silva, L. A., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1994). Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. In Anais. São Paulo: Associacao Brasileira de Ceramica. -
NLM
Alves VA, Silva LA, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Anais. 1994 ;[citado 2025 maio 21 ] -
Vancouver
Alves VA, Silva LA, Silva M de AP da, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Anais. 1994 ;[citado 2025 maio 21 ] - Influencia das condicoes de sintese da zeolita zsm-5 no tamanho do cristal
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