Estudo de diferentes metodos de fabricacao de ceramicas supercondutoras do sistema bscco por microscopia eletronica de varredura (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC ; AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título: Anais
- Conference titles: Simposio Brasileiro de Microscopia Eletronica e Tecnicas Associadas a Pesquisa de Materiais
-
ABNT
CARVALHO, C. L. et al. Estudo de diferentes metodos de fabricacao de ceramicas supercondutoras do sistema bscco por microscopia eletronica de varredura. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1994. . Acesso em: 07 fev. 2026. -
APA
Carvalho, C. L., Silva, M. de A. P. da, Santos, D. I., & Aegerter, M. A. (1994). Estudo de diferentes metodos de fabricacao de ceramicas supercondutoras do sistema bscco por microscopia eletronica de varredura. In Anais. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. -
NLM
Carvalho CL, Silva M de AP da, Santos DI, Aegerter MA. Estudo de diferentes metodos de fabricacao de ceramicas supercondutoras do sistema bscco por microscopia eletronica de varredura. Anais. 1994 ;[citado 2026 fev. 07 ] -
Vancouver
Carvalho CL, Silva M de AP da, Santos DI, Aegerter MA. Estudo de diferentes metodos de fabricacao de ceramicas supercondutoras do sistema bscco por microscopia eletronica de varredura. Anais. 1994 ;[citado 2026 fev. 07 ] - Caracterizacao da superficie de materiais eletrodicos de diferentes composicoes nominais: 'IR IND.X''TI IND. (1-X)''O IND.2' (0,2 '< OU ='x'< OU ='1)
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- Aerogeis de niobia para fins cataliticos
- Aplicacao da litografia por feixe de eletrons no estudo de substrato metalico para filmes ceramicos supercondutores de alta temperatura critica
- Caracterizacao de pastilhas supercondutoras do sistema 'BI': 'PB' : 'SR' : 'CA' : 'CU' : o usando mev
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- Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro
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