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  • Source: Thin Solid Films. Unidade: EP

    Assunto: PLASMA

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    • ABNT

      MASSI, Marcos et al. Effects of plasma etching on DLC films. Thin Solid Films, n. 343-344, p. 381-384, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(98)01691-5. Acesso em: 11 jul. 2024.
    • APA

      Massi, M., Mansano, R. D., Maciel, H. S., Otani, C., Verdonck, P. B., & Nishioka, L. N. B. M. (1999). Effects of plasma etching on DLC films. Thin Solid Films, ( 343-344), 381-384. doi:10.1016/s0040-6090(98)01691-5
    • NLM

      Massi M, Mansano RD, Maciel HS, Otani C, Verdonck PB, Nishioka LNBM. Effects of plasma etching on DLC films [Internet]. Thin Solid Films. 1999 ;( 343-344): 381-384.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(98)01691-5
    • Vancouver

      Massi M, Mansano RD, Maciel HS, Otani C, Verdonck PB, Nishioka LNBM. Effects of plasma etching on DLC films [Internet]. Thin Solid Films. 1999 ;( 343-344): 381-384.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(98)01691-5
  • Source: IEEE Transactions on Magnetics. Unidade: EP

    Assunto: MÉTODO DOS ELEMENTOS FINITOS (ANÁLISE)

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    • ABNT

      DE POLLI, Yasmara Conceição et al. Finite element analysis of impedance of an electron beam current monitor. IEEE Transactions on Magnetics, v. 35, n. 3, p. 1833-1836, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/20.767389. Acesso em: 11 jul. 2024.
    • APA

      De Polli, Y. C., Migliano, A. C. da C., Stopa, C. R. S., Nabeta, S. I., & Cardoso, J. R. (1999). Finite element analysis of impedance of an electron beam current monitor. IEEE Transactions on Magnetics, 35( 3), 1833-1836. doi:10.1109/20.767389
    • NLM

      De Polli YC, Migliano AC da C, Stopa CRS, Nabeta SI, Cardoso JR. Finite element analysis of impedance of an electron beam current monitor [Internet]. IEEE Transactions on Magnetics. 1999 ; 35( 3): 1833-1836.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1109/20.767389
    • Vancouver

      De Polli YC, Migliano AC da C, Stopa CRS, Nabeta SI, Cardoso JR. Finite element analysis of impedance of an electron beam current monitor [Internet]. IEEE Transactions on Magnetics. 1999 ; 35( 3): 1833-1836.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1109/20.767389
  • Source: IEEE Transactions on Magnetics. Unidade: EP

    Assunto: MÉTODO DOS ELEMENTOS FINITOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      FRANCO, Marcos Antonio Ruggieri et al. Finite element analysis of anisotropic optical waveguide with arbitrary index profile. IEEE Transactions on Magnetics, v. 35, n. 3, p. 1546-1549, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/20.767263. Acesso em: 11 jul. 2024.
    • APA

      Franco, M. A. R., Passaro, A., Cardoso, J. R., & Machado, J. M. (1999). Finite element analysis of anisotropic optical waveguide with arbitrary index profile. IEEE Transactions on Magnetics, 35( 3), 1546-1549. doi:10.1109/20.767263
    • NLM

      Franco MAR, Passaro A, Cardoso JR, Machado JM. Finite element analysis of anisotropic optical waveguide with arbitrary index profile [Internet]. IEEE Transactions on Magnetics. 1999 ; 35( 3): 1546-1549.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1109/20.767263
    • Vancouver

      Franco MAR, Passaro A, Cardoso JR, Machado JM. Finite element analysis of anisotropic optical waveguide with arbitrary index profile [Internet]. IEEE Transactions on Magnetics. 1999 ; 35( 3): 1546-1549.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1109/20.767263

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