ReP USP - Resultado da busca

Filtros : "SEMICONDUTORES" "Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil" Removido: "SCHENBERG, ANA CLARA GUERRINI" Limpar

Filtros

USP affiliated authors
- added, nemitala (1)
- carlin filho, nelson (1)
- medina, nilberto heder (1)
- munhoz, marcelo gameiro (1)
- rodrigues, cleber lima (1)

Trabalho de evento-resumo
Measurement of a semiconductors passivation layer thickness (2014)
Aguirre, Fernando Rodrigues; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Added, Nemitala; Tabacniks, Manfredo Harri ; Medina, Nilberto Heder
Source: SBF. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIRRE, Fernando Rodrigues et al. Measurement of a semiconductors passivation layer thickness. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0096-1.pdf. Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Aguirre, F. R., Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Aguiar, V. Â. P. de, Added, N., Tabacniks, M. H., & Medina, N. H. (2014). Measurement of a semiconductors passivation layer thickness. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0096-1.pdf
NLM
Aguirre FR, Silva TF da, Rodrigues CL, Aguiar VÂP de, Added N, Tabacniks MH, Medina NH. Measurement of a semiconductors passivation layer thickness [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0096-1.pdf
Vancouver
Aguirre FR, Silva TF da, Rodrigues CL, Aguiar VÂP de, Added N, Tabacniks MH, Medina NH. Measurement of a semiconductors passivation layer thickness [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0096-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Construction and testing of an experimental apparatus for irradiation of semiconductor Devices. (2014)
Gisolfi, Sergio; Bregant, Marco; Luz, Hugo Natal da; Suaide, Alexandre Alarcon do Passo; Munhoz, Marcelo Gameiro; Carlin Filho, Nelson
Source: SBF. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GISOLFI, Sergio et al. Construction and testing of an experimental apparatus for irradiation of semiconductor Devices. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0080-1.pdf. Acesso em: 05 nov. 2024.
APA
Gisolfi, S., Bregant, M., Luz, H. N. da, Suaide, A. A. do P., Munhoz, M. G., & Carlin Filho, N. (2014). Construction and testing of an experimental apparatus for irradiation of semiconductor Devices. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0080-1.pdf
NLM
Gisolfi S, Bregant M, Luz HN da, Suaide AA do P, Munhoz MG, Carlin Filho N. Construction and testing of an experimental apparatus for irradiation of semiconductor Devices. [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0080-1.pdf
Vancouver
Gisolfi S, Bregant M, Luz HN da, Suaide AA do P, Munhoz MG, Carlin Filho N. Construction and testing of an experimental apparatus for irradiation of semiconductor Devices. [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 05 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0080-1.pdf

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo 2012 - 2024