Source: Anais. Conference titles: Simposio Brasileiro de Microscopia Eletronica e Tecnicas Associadas a Pesquisa de Materiais. Unidades: FFCLRP, IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
SILVA, L. A. et al. Caracterizacao da superficie de materiais eletrodicos de diferentes composicoes nominais: 'IR IND.X''TI IND. (1-X)''O IND.2' (0,2'< OU ='x'< OU ='1), antes e apos intenso desprendimento de oxigenio , por mev. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1994. . Acesso em: 18 out. 2024.APA
Silva, L. A., Alves, V. A., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., Trasatti, S., & Boodts, J. F. C. (1994). Caracterizacao da superficie de materiais eletrodicos de diferentes composicoes nominais: 'IR IND.X''TI IND. (1-X)''O IND.2' (0,2'< OU ='x'< OU ='1), antes e apos intenso desprendimento de oxigenio , por mev. In Anais. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.NLM
Silva LA, Alves VA, Silva M de AP da, Aegerter MA, Trasatti S, Boodts JFC. Caracterizacao da superficie de materiais eletrodicos de diferentes composicoes nominais: 'IR IND.X''TI IND. (1-X)''O IND.2' (0,2'< OU ='x'< OU ='1), antes e apos intenso desprendimento de oxigenio , por mev. Anais. 1994 ;[citado 2024 out. 18 ]Vancouver
Silva LA, Alves VA, Silva M de AP da, Aegerter MA, Trasatti S, Boodts JFC. Caracterizacao da superficie de materiais eletrodicos de diferentes composicoes nominais: 'IR IND.X''TI IND. (1-X)''O IND.2' (0,2'< OU ='x'< OU ='1), antes e apos intenso desprendimento de oxigenio , por mev. Anais. 1994 ;[citado 2024 out. 18 ]