Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: VIDRO, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
ABNT
MASTELARO, Valmor Roberto et al. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. 2003, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2003. . Acesso em: 02 out. 2024.APA
Mastelaro, V. R., Messaddeq, S. H., Siu Li, M., Messaddeq, Y., Lisboa-Filho, P. N., & Schreiner, W. (2003). Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.NLM
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 out. 02 ]Vancouver
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 out. 02 ]