Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS (2003)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC ; LI, MAXIMO SIU - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: VIDRO; FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Física
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 2003
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
MASTELARO, Valmor Roberto et al. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. 2003, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2003. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Mastelaro, V. R., Messaddeq, S. H., Siu Li, M., Messaddeq, Y., Lisboa-Filho, P. N., & Schreiner, W. (2003). Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Local order stufy of germanium atoms in 'Ga IND.10''Ge IND.25''S IND.26' glass by EXAFS
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