Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS (2003)
- Autores:
- Autores USP: MASTELARO, VALMOR ROBERTO - IFSC ; LI, MAXIMO SIU - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assuntos: VIDRO; FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Sociedade Brasileira de Física
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 2003
- Fonte:
- Título do periódico: Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada
-
ABNT
MASTELARO, Valmor Roberto et al. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. 2003, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2003. . Acesso em: 26 set. 2024. -
APA
Mastelaro, V. R., Messaddeq, S. H., Siu Li, M., Messaddeq, Y., Lisboa-Filho, P. N., & Schreiner, W. (2003). Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. -
NLM
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 26 ] -
Vancouver
Mastelaro VR, Messaddeq SH, Siu Li M, Messaddeq Y, Lisboa-Filho PN, Schreiner W. Caracterização estrutural por XPS do processo de foto-expansão em um vidro de composição GaGeS. Resumos. 2003 ;[citado 2024 set. 26 ] - Estudo estrutural da fotoexpansão em vidros calcogenetos através da técnica de XAS
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