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Trabalho de evento-resumo
RBS analysis of anodized porous films (2016)
Delgado-Silva, Adriana de Oliveira; Silva, Tiago Fiorini da ; Carossi, Lory Cantelli ; Trivinho-Strixino, Francisco; Antonio, César Augusto; Cruz, Nilson Cristino da ; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA, ESPALHAMENTO
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ABNT
DELGADO-SILVA, Adriana de Oliveira et al. RBS analysis of anodized porous films. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Delgado-Silva, A. de O., Silva, T. F. da, Carossi, L. C., Trivinho-Strixino, F., Antonio, C. A., Cruz, N. C. da, & Tabacniks, M. H. (2016). RBS analysis of anodized porous films. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
NLM
Delgado-Silva A de O, Silva TF da, Carossi LC, Trivinho-Strixino F, Antonio CA, Cruz NC da, Tabacniks MH. RBS analysis of anodized porous films [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
Vancouver
Delgado-Silva A de O, Silva TF da, Carossi LC, Trivinho-Strixino F, Antonio CA, Cruz NC da, Tabacniks MH. RBS analysis of anodized porous films [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0403-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Fonte: Posters - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Elastic scattering of 8,10,11B on 58Ni, reorientation and halo effects (2016)
Scarduelli, Valdir Brunetti; Guimaraes, Valdir; Crema, Edilson; Abriola, D; Arazi, A; Barbará, E de; Capurro, O A; Cardona, M A; Gallardo, J; Hojman, D; Martí, G V; Pacheco, A J; Rodrígues, D; Morcelle, Viviane; Mendes Junior, Djalma Rosa; Aguilera, Eli F; Deshmukh, Nikit; Yang, Yanyun Y
Fonte: Oral Session - Resumo. Nome do evento: Encontro de Física. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ESPALHAMENTO, REAÇÕES NUCLEARES
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ABNT
SCARDUELLI, Valdir Brunetti et al. Elastic scattering of 8,10,11B on 58Ni, reorientation and halo effects. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1808-1.pdf. Acesso em: 15 nov. 2024.
APA
Scarduelli, V. B., Guimaraes, V., Crema, E., Abriola, D., Arazi, A., Barbará, E. de, et al. (2016). Elastic scattering of 8,10,11B on 58Ni, reorientation and halo effects. In Oral Session - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1808-1.pdf
NLM
Scarduelli VB, Guimaraes V, Crema E, Abriola D, Arazi A, Barbará E de, Capurro OA, Cardona MA, Gallardo J, Hojman D, Martí GV, Pacheco AJ, Rodrígues D, Morcelle V, Mendes Junior DR, Aguilera EF, Deshmukh N, Yang YY. Elastic scattering of 8,10,11B on 58Ni, reorientation and halo effects [Internet]. Oral Session - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1808-1.pdf
Vancouver
Scarduelli VB, Guimaraes V, Crema E, Abriola D, Arazi A, Barbará E de, Capurro OA, Cardona MA, Gallardo J, Hojman D, Martí GV, Pacheco AJ, Rodrígues D, Morcelle V, Mendes Junior DR, Aguilera EF, Deshmukh N, Yang YY. Elastic scattering of 8,10,11B on 58Ni, reorientation and halo effects [Internet]. Oral Session - Resumo. 2016 ;[citado 2024 nov. 15 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1808-1.pdf

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