Boundary-scan test of multichip modules (1996)
Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida 
Source: Proceedings. Conference titles: Conference of the Brazilian Microelectronics Society. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Boundary-scan test of multichip modules. 1996, Anais.. São Paulo: Sbmicro, 1996. . Acesso em: 01 out. 2024.APA
Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Boundary-scan test of multichip modules. In Proceedings. São Paulo: Sbmicro.NLM
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Boundary-scan test of multichip modules. Proceedings. 1996 ;[citado 2024 out. 01 ]Vancouver
Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Boundary-scan test of multichip modules. Proceedings. 1996 ;[citado 2024 out. 01 ]
