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  • Tese (Doutorado)

    Estudo de transistores SOI de múltiplas portas com óxidos de porta de alta constante dielétrica e eletrodo de porta metálico (2010)

    Rodrigues, Michele; Martino, João Antonio (Orientador) ; Sonnenberg, Victor (coorient)

    Unidade: EP

    Subjects: SEMICONDUTORES, SILÍCIO, TRANSISTORES, ELETRODO, DIELÉTRICOS

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RODRIGUES, Michele. Estudo de transistores SOI de múltiplas portas com óxidos de porta de alta constante dielétrica e eletrodo de porta metálico. 2010. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2010. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01032011-122604/. Acesso em: 17 jun. 2024.

    • APA

      Rodrigues, M. (2010). Estudo de transistores SOI de múltiplas portas com óxidos de porta de alta constante dielétrica e eletrodo de porta metálico (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01032011-122604/

    • NLM

      Rodrigues M. Estudo de transistores SOI de múltiplas portas com óxidos de porta de alta constante dielétrica e eletrodo de porta metálico [Internet]. 2010 ;[citado 2024 jun. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01032011-122604/

    • Vancouver

      Rodrigues M. Estudo de transistores SOI de múltiplas portas com óxidos de porta de alta constante dielétrica e eletrodo de porta metálico [Internet]. 2010 ;[citado 2024 jun. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01032011-122604/

  • Dissertação (Mestrado)

    Caracterização elétrica de capacitores obtidos através de tecnologia ultra-submicrométrica (2006)

    Rodrigues, Michele; Martino, João Antonio (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: CAPACITORES, CIRCUITOS INTEGRADOS MOS, MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      RODRIGUES, Michele. Caracterização elétrica de capacitores obtidos através de tecnologia ultra-submicrométrica. 2006. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19092006-142354/. Acesso em: 17 jun. 2024.

    • APA

      Rodrigues, M. (2006). Caracterização elétrica de capacitores obtidos através de tecnologia ultra-submicrométrica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19092006-142354/

    • NLM

      Rodrigues M. Caracterização elétrica de capacitores obtidos através de tecnologia ultra-submicrométrica [Internet]. 2006 ;[citado 2024 jun. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19092006-142354/

    • Vancouver

      Rodrigues M. Caracterização elétrica de capacitores obtidos através de tecnologia ultra-submicrométrica [Internet]. 2006 ;[citado 2024 jun. 17 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19092006-142354/
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