Atomic-scale characterization of interfaces in the GaAs/AlAs superlattices (1995)
Source: Abstracts. Conference titles: International Conference on Low Dimensional Structures and Devices - LDSD. Unidade: IFSC
Assunto: FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PUSEP, Yuri A. et al. Atomic-scale characterization of interfaces in the GaAs/AlAs superlattices. 1995, Anais.. Singapore: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 06 set. 2024.APA
Pusep, Y. A., Silva, S., Galzerani, J. C., Lubyshev, D. I., & Basmaji, P. (1995). Atomic-scale characterization of interfaces in the GaAs/AlAs superlattices. In Abstracts. Singapore: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.NLM
Pusep YA, Silva S, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Atomic-scale characterization of interfaces in the GaAs/AlAs superlattices. Abstracts. 1995 ;[citado 2024 set. 06 ]Vancouver
Pusep YA, Silva S, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Atomic-scale characterization of interfaces in the GaAs/AlAs superlattices. Abstracts. 1995 ;[citado 2024 set. 06 ]
