Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos (2005)
Aburaya, Jim Heiji; Tabacniks, Manfredo Harri (Orientador) 
Assuntos: ESPECTROSCOPIA DE RAIO X, ESTRUTURA DOS SÓLIDOS, FÍSICA DO ESTADO SÓLIDO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ABURAYA, Jim Heiji. Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos. 2005. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2005. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-22032007-143019/. Acesso em: 02 out. 2024.APA
Aburaya, J. H. (2005). Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-22032007-143019/NLM
Aburaya JH. Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos [Internet]. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-22032007-143019/Vancouver
Aburaya JH. Padronização de análises PIXE de amostras sólidas em alvos espessos [Internet]. 2005 ;[citado 2024 out. 02 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-22032007-143019/
